Cihazın Markası : FEİ

 
Cihazın Modeli : QUANTA FEG 250
 
     Taramalı elektron mikroskobu, yüksek voltajlar ile hızlandırılmış elektronların ışığa göre çok daha yüksek ayırma gücüne sahip olabileceğinin keşfi üzerine elektronların mikroskoplarda görüntü elde edilmesinde kullanılabileceği düşüncesi ile icat edilmiştir. Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) temelde optik kolon, numune hücresi ve görüntüleme sistemi olmak üzere üç ana kısımdan oluşur.
 
      Taramalı Elektron Mikroskobunda (SEM) görüntü, yüksek voltaj ile hızlandırılmış elektronların numune üzerine odaklanması, bu elektron demetinin numune yüzeyinde taratılması sırasında elektron ve numune atomları arasında oluşan çeşitli girişimler sonucunda meydana gelen etkilerin uygun algılayıclarda toplanması ve sinyal güçlendiricilerinden geçirildikten sonra bir katot ışınları tüpünün ekranına aktarılmasıyla elde edilir.
 
     Yüzey Mikroyapı Analizi, Kesit Mikroyapı Analizi, Toz Karakterizasyonu, Noktasal elemental analiz , Alan Elemental Analiz, Çizgisel Elemental Analiz, Elemental Olarak Haritalama ve Yüzey ve kesit mikroyapı analizleri hem SE (ikincil elektron dedektörü) hem de BSE (geri saçılan elektron dedektörü) ile yapılabilmektedir.
 
Dedektörler:
Everhardt  Thornley ETD (ikincil elektron detektörü
 STEM Detektörü
 EDS Detektörü
Geniş  Alan Düşük Vakum ikincil elektron detektörü (LFD)
Gaz ikincil elektron detektörü (GSED) (ESEM modunda kullanılır)
(Sulu örnekler için WETSTEM kiti bulunmaktadır)
 
Sorumlu Personel:
 
Muhammet AYDIN,  PhD
e-mail:muhammetaydin@nku.edu.tr

Tel:0282 250 1137-1143

 SEM Analiz İstek Formu

    SEM Analiz İstek Formu 

ÖRNEK GÖRÜNTÜLER

(GÖRÜNTÜLERİN İZİNSİZ KULLANIMI YASAKTIR !!!!!)

POLEN GÖRÜNTÜLERİ

KÜF RESİMLERİ

Bakteriler

 

.

.