ATOMİK KUVVET MİKROSKOBU

Teknik Özellikler :

Marka : NanoMagnetics İnstruments
Model: AFM PLUS +
 
         Sistem; algılayıcı prob (cantilever), piezoelektrik seramikler, elektronik devre geri beslemesi ve bilgisayardan oluşur. AFMnin kalbi niteliğinde olan  genellikle silikon ya da silikon nitrürdürden yapılan iğne-yay (cantilever) sistemi atomik boyutlara kadar sivriltilmiş bir uca sahiptir.  AFM de iğne-yay (cantilever) sistemindeki eğilme-bükülme, manivelanin bir ucundan dedektöre (bir dizi fotodiyot) yansıtılan bir lazer ışını sayesinde ölçülür. AFM, karakteristikleri üç boyutta analiz edebilen ve 1 A°’dan küçük yükseklik değişimlerini rahatlıkla algılayarak resim görüntülere çeviren bir cihazdır.
 
         Bu mikroskob sayesinde ulaşılmış çözünürlük bir kaç nanometre ölçeğinde olup optik tekniklerden en az 1000 kat  daha fazladır. AFM incelenmesi, yüzeyin  fiziksel özellikleri ve topografisini yüksek çözünürlükte ve üç boyutlu görüntülenmesini sağlar. AFM cihazıyla yapılan çalışmalarda ön hazırlığa gerek duyulmadan, doğrudan yüzey görüntüleri elde edilebilir. AFM, üç boyutlu bir yüzey görüntüsü üzerinde incelemeye olanak sağlamakla birlikte, yüzey pürüzlülüğü parametrelerini rakamsal olarak da verebilir.
 
Uygulamalar:
Araştırılan materyaller; ince veya kalın film  şeklindeki kaplamalar, seramikler, kompozitler, camlar, yapay ve biyolojik zarlar, metaller, polimerler ve yarı iletkenlerdir
 
AFM özellikleri:
XY Tarayıcı: Motorize 50 mm hareket, 50 nm çözünürlük
Z-tarayıcı: Motorize 50 mm hareket, 250 nm çözünürlük
 
Optik Mikroskop:
Görüş alanı 1.25 mm -0.25 mm
Tarama Modları:
Contact Mode (Temaslı yöntem)
Taping  Mode (Vurma yöntemi)
STM Mode (Taramalı Tünelleme Mikrokobu)
MFM Mode (Manyetin Kuvvet Mikroskobu)
Not: Cİhaz contact ve tapping modlarda sıvı ortamında çalışabilmektedir.
 
Sorumlu Personel:
Muhammet AYDIN
e-mail: muhammetaydin@nku.edu.tr
Tel: 0 282 250 1137-1143

           AFM Analiz İstek Formu

           AFM Analiz İstek Formu

Örnek Görüntüler